UtamaCarian Analisis
Atur Ikut: 3 rekod
Survey & High Resolution Scan i-CRIM
XPS 01
Survey & High Resolution Scan
Mengenalpasti elemen yang ada pada permukaan sampel secara kualitatif
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
+603-89118500
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
Warga UKM
RM 300.00
/ sample
Luar UKM
RM 400.00
/ sample
XPS 01
Survey & High Resolution Scan
Info
Mengenalpasti elemen yang ada pada permukaan sampel secara kualitatif
Lokasi
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
PTJ
i-CRIM
Kadar Bayaran
Warga UKM
RM 300.00
Bukan Warga
RM 400.00
Unitsample
Buat Permohonan
Depth Profiling i-CRIM
XPS 02
Depth Profiling
Membersihkan permukaan sampel menggunakan ion Ar+ dan mengenalpasti elemen yang ada pada beberapa lapisan permukaan sampel. Nota (permukaan sampel mestilah rata dan tidak kasar)
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
+603-89118500
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
Warga UKM
RM 500.00
/ sample
Luar UKM
RM 600.00
/ sample
XPS 02
Depth Profiling
Info
Membersihkan permukaan sampel menggunakan ion Ar+ dan mengenalpasti elemen yang ada pada beberapa lapisan permukaan sampel. Nota (permukaan sampel mestilah rata dan tidak kasar)
Lokasi
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
PTJ
i-CRIM
Kadar Bayaran
Warga UKM
RM 500.00
Bukan Warga
RM 600.00
Unitsample
Buat Permohonan
Element Mapping i-CRIM
XPS 03
Element Mapping
Menentukan taburan elemen pada permukaan sampel
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
+603-89118500
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
Warga UKM
RM 100.00
/ sample
Luar UKM
RM 150.00
/ sample
XPS 03
Element Mapping
Info
Menentukan taburan elemen pada permukaan sampel
Lokasi
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
PTJ
i-CRIM
Kadar Bayaran
Warga UKM
RM 100.00
Bukan Warga
RM 150.00
Unitsample
Buat Permohonan