Membersihkan permukaan sampel menggunakan ion Ar+ dan mengenalpasti elemen yang ada pada beberapa lapisan permukaan sampel.
Nota (permukaan sampel mestilah rata dan tidak kasar)
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
+603-89118500
Ts. Mohamad Azri Bin Tukimon
Chm. Fatin Najihah
Warga UKM
RM 500.00
/ sample
Luar UKM
RM 600.00
/ sample
XPS 02
Depth Profiling
Info
Membersihkan permukaan sampel menggunakan ion Ar+ dan mengenalpasti elemen yang ada pada beberapa lapisan permukaan sampel.
Nota (permukaan sampel mestilah rata dan tidak kasar)