UtamaCarian Analisis
i-CRIM X-Ray Photoelectron Spectrometer
XPS 01
Survey & High Resolution Scan
Warga UKM
RM 300.00
/ sample
Luar UKM
RM 400.00
/ sample
XPS
X-Ray Photoelectron Spectrometer
Analisis
XPS 01 — Survey & High Resolution Scan
Info
Mengenalpasti elemen yang ada pada permukaan sampel secara kualitatif
Lokasi
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
Chm. Fatin Najihah
PTJ
i-CRIM
Kadar Bayaran
Warga UKM
RM 300.00
Bukan Warga
RM 400.00
Unitsample
i-CRIM X-Ray Photoelectron Spectrometer
XPS 02
Depth Profiling
Warga UKM
RM 500.00
/ sample
Luar UKM
RM 600.00
/ sample
XPS
X-Ray Photoelectron Spectrometer
Analisis
XPS 02 — Depth Profiling
Info
Membersihkan permukaan sampel menggunakan ion Ar+ dan mengenalpasti elemen yang ada pada beberapa lapisan permukaan sampel.
Nota (permukaan sampel mestilah rata dan tidak kasar)
Lokasi
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
Chm. Fatin Najihah
PTJ
i-CRIM
Kadar Bayaran
Warga UKM
RM 500.00
Bukan Warga
RM 600.00
Unitsample
i-CRIM X-Ray Photoelectron Spectrometer
XPS 03
Element Mapping
Warga UKM
RM 100.00
/ sample
Luar UKM
RM 150.00
/ sample
XPS
X-Ray Photoelectron Spectrometer
Analisis
XPS 03 — Element Mapping
Info
Menentukan taburan elemen pada permukaan sampel
Lokasi
Aras 1, Kompleks Penyelidikan UKM
Chm. Fatin Najihah
PTJ
i-CRIM
Kadar Bayaran
Warga UKM
RM 100.00
Bukan Warga
RM 150.00
Unitsample